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美國LEE L180測厚儀(渦流技術)
測量原理:渦流法
測量范圍:1~1250μm
測量準確度:±[(1~3)%H+1] μm(全量程校準)
分辨率:1μm
L180 涂鍍層測厚儀的詳細介紹L180涂鍍層測厚儀功能:
可進行零點校準及全量程校準。紅寶石防磨探頭。
可對探頭進行基本校準。
具有自動關機功能。
操作過程有蜂鳴聲提示。
有欠壓指示功能。
有錯誤提示功能。L180涂鍍層測厚儀指標:
測量原理:渦流法
測量范圍:1~1250μm
測量準確度:±[(1~3)%H+1] μm(全量程校準)
分辨率:1μm工
件要求:zui小曲率半徑(mm)凸5 / 凹 10 ;
接觸zui小面積直徑10(mm) ;
基體臨街厚度(mm) 0.3
使用環(huán)境:溫度 0-40攝氏度; 濕度 20%-75% ; 無磁場環(huán)境
電源:四節(jié)1.5伏AAA電池
外形尺寸:112 ×69×28mm
重量:82 g(不含電池)
標準配置:
主機、標準校準片組、校準鐵基體、使用指南、校準片檢驗報告、手提箱、掛繩及電池等
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